膜厚儀能同時(shí)測(cè)量磁性基材表面的非磁性涂鍍層,以及非磁性金屬基材表面的非導(dǎo)電涂鍍層。本儀表內(nèi)置高精密雙探頭,利用電磁感應(yīng)和渦流效應(yīng),全自動(dòng)探測(cè)基材屬性,計(jì)算涂鍍層厚度,并通過點(diǎn)陣液晶快速顯示結(jié)果。
同時(shí),測(cè)量數(shù)據(jù)可分組保存,并實(shí)時(shí)顯示統(tǒng)計(jì)值。用戶可分別為每組設(shè)置上下限報(bào)警值、零校準(zhǔn)、多點(diǎn)校準(zhǔn)。全新的多點(diǎn)校準(zhǔn)和零校準(zhǔn),讓您非常方便的隨時(shí)進(jìn)行校準(zhǔn)。標(biāo)準(zhǔn)化菜單,確保您非常容易的使用它。
膜厚儀的特點(diǎn):
A.大點(diǎn)陣液晶屏,標(biāo)準(zhǔn)化菜單操作;
B.兩種測(cè)量模式:?jiǎn)未魏瓦B續(xù);
C.兩種組模式:直接組和通用組,一個(gè)直接組和四個(gè)通用組。直接組關(guān)機(jī)后數(shù)據(jù)自動(dòng)全部清除。通用組數(shù)據(jù)將自動(dòng)保存,關(guān)機(jī)不丟失。每組可存儲(chǔ)80個(gè)數(shù)據(jù);
D.可零校準(zhǔn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)。各組有單獨(dú)的零校準(zhǔn)和多點(diǎn)校準(zhǔn),組與組之間不影響;
E.用戶可隨時(shí)查看當(dāng)前工作組已測(cè)得的數(shù)據(jù),并刪除數(shù)據(jù)或整組數(shù)據(jù);
F.實(shí)時(shí)顯示當(dāng)前工作組統(tǒng)計(jì)值:平均值,較小值,Max值,標(biāo)準(zhǔn)方差;
G.三種探頭模式:自動(dòng)、磁感應(yīng)和渦流;
H.可為各組單獨(dú)設(shè)置高低限報(bào)警值,超*屏幕指示報(bào)警;
I.可開啟或關(guān)閉自動(dòng)關(guān)機(jī)功能;
J.USB接口可傳輸通用組數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī);
K.低電和錯(cuò)誤提示。
膜厚儀可以測(cè)量較大5層重疊薄膜的厚度和折射率。
可測(cè)量如氧化物,氮化物,光阻,導(dǎo)電玻璃,聚合物和半導(dǎo)體薄膜等透明或半透明薄膜。